AEC-Q101對對各類半導體分立器件的車用可靠性要求進行了梳理。AEC-Q101試驗不僅是對元器件可靠性的國際通用報告，更是打開車載供應鏈的敲門磚。 百檢檢測在SiC第三代半導體器件的AEC-Q認證上具有豐富的實戰經驗，為您提供專業可靠的AEC-Q101認證服務，同時，我們也開展了間歇工作壽命（IOL）、HAST、H3TRB、HTRB、HTGB、高壓蒸煮（Autoclave）試驗服務，設備能力完全覆蓋以SiC為第三代半導體器件的可靠性試驗能力。

服務介紹

       隨著技術的進步，各類半導體功率器件開始由實驗室階段走向商業應用，尤其以SiC為代表的第三代半導體器件國產化的腳步加快。但車用分立器件市場均被國外巨頭所把控，國產器件很難分一杯羹，主要的原因之一即是可靠性得不到認可。

測試周期：

       2-3個月，提供全面的認證計劃、測試等服務

產品范圍：

       二、三極管、晶體管、MOS、IBGT、TVS管、Zener、閘流管等半導體分立器件

測試項目：