在找集成電路檢測機構？百檢網為您提供集成電路檢測服務，專業工程師對接確認項目、標準后制定方案，包括集成電路檢測周期、報價、樣品等，確認無誤后安排寄樣檢測，集成電路檢測常規周期3-15個工作日，歡迎咨詢。

檢測樣品：紡織品、化妝品、食品、農產品、絕緣工具、五金件等

報告資質：CNAS/CMA/CAL

報告周期：常規3-15個工作日，特殊樣品、檢測項目除外。

檢測費用：根據檢測項目收費，詳情請咨詢百檢網。

集成電路檢測項目：

低溫存儲試驗,低溫工作試驗,低溫運行試驗,沖擊試驗,功率因數測量誤差試驗,功率測量誤差試驗,功耗試驗,可焊性試驗,周期中斷功能試驗,響應時間試驗,增益試驗,外觀和尺寸檢查,失效保護功能試驗,工作電流試驗,開路/短路,引出端強度試驗,抗靜電測試試驗,抗靜電能力試驗,振動試驗,接收器差分輸入閾值電壓試驗,接收器輸入阻抗試驗,接收器輸出電壓試驗,接收器輸出短路電流試驗,接收器輸出高阻態漏電流試驗,接收靈敏度試驗,數字輸入電壓試驗,時鐘功能試驗,機械性能試驗,極性判別時間試驗,極限溫度使用試驗,溫度沖擊試驗,溫度影響量試驗,焊錫接合強度試驗,電壓信號采樣通道測量誤差試驗,電壓基準試驗,電流信號采樣通道測量誤差試驗,電源電流測試,電能計量誤差試驗,線性放大試驗,耐濕,耐焊接熱試驗,自動極性判斷和校正試驗,諧波影響量試驗,過壓保護功能試驗,過流保護功能試驗,通信速率及誤碼率試驗,鬧鐘中斷試驗,靜態工作電流,頻率影響量試驗,頻率測量誤差試驗,頻率溫度特性試驗,頻率電壓特性試驗,驅動器共模輸出電壓試驗,驅動器差分輸出電壓試驗,驅動器輸出短路電流試驗,高溫存儲試驗,高溫壽命試驗,高溫工作試驗,高溫運行試驗,高溫高濕存儲試驗,高溫高濕試驗,X射線檢查,剪切強度,外部目檢,密封,恒定加速度,溫度循環,穩定性烘焙,穩態壽命,粒子碰撞噪聲檢測,粒子碰撞噪聲檢測試驗,老煉試驗,芯片剪切強度,芯片粘接的超聲檢測,鍵合強度,鍵合強度（破壞性鍵合拉力試驗）,靜電放電敏感度的分級,靜電放電敏感度測試/人體模型,靜電放電敏感度測試/場感應器件放電模型,靜電放電敏感度測試/集成電路閂鎖測試,掃描電子顯微鏡（SEM）檢查,傳導發射測量-1Ω/150Ω直接耦合法,傳導抗擾度測量-大電流注入（BCI）法,傳導抗擾度測量-直接注入法,汽車電子瞬態傳導抗擾度（脈沖1，2a,3a,3b),電快速瞬變脈沖群抗擾度,輻射發射測量-TEM小室和寬帶TEM小室法,輻射抗擾度測量-TEM小室和寬帶TEM小室法,低溫工作壽命測試,常溫循環擦寫后的數據保持能力測試,常溫循環擦寫后的數據保持能力測試和讀操作干擾測試,常溫循環擦寫耐力測試,未經循環擦寫的超高溫數據保持能力測試,未經循環擦寫的高溫數據保持能力測試,高溫工作壽命測試,高溫循環擦寫后的超高溫數據保持能力測試,高溫循環擦寫后的高溫工作壽命測試,高溫循環擦寫后的高溫數據保持能力測試,高溫循環擦寫耐力測試,高溫早期失效測試,(運算放大器的)短路輸出電流,MOS電路傳輸時間,MOS電路延遲時間和轉換時間,串擾衰減,串擾衰減（多重放大器）,交變濕熱,低溫,共模輸入電壓范圍,沖擊,分辨時間,功能驗證,動態條件下的總電源電流,動態特性,單位增益頻率,雙極型電路傳輸時間,雙極型電路延遲時間和轉換時間,可焊性,響應時間,基準電壓,備用電流（靜態電流）,外部目檢和標志檢查,存儲器寫恢復時間,存儲器地址存取時間,存儲器片選存取時間,存儲器讀存取時間,導通時間和截止時間,小信號輸入阻抗,尺寸,差分放大器的輸出電壓范圍,建立時間和保持時間,開環電壓放大倍數,引出端之間的絕緣電阻,引出端強度,彎曲試驗,強加速濕熱,截止態和導通態電流（對模擬信號開關電路）,截止態開關隔離,截止頻率,扭轉試驗,拉力試驗,振動，掃描頻率,控制饋通電壓,推力試驗,數字集成電路功能檢驗,時序電路的轉換頻率,易燃性,最小寫脈沖持續時間（脈寬）的測試,最高和最低工作溫度下電特性,標志耐久性,標志耐溶劑性,正向鎖定的輸入/輸出電壓或電流,溫度變化,溫度快速變化,滿輸出電壓幅度的上限頻率,獨立元件的測量(外貼元件),獨立元件的測量(淀積膜元件的測量),環境溫度下電特性,電壓測試：等效輸入和輸出電容、等效輸入和輸出電阻,電流測試：大信號工作時的輸入和輸出電容,電測試

百檢檢測流程：

1、電話溝通、確認需求;

2、推薦方案、確認報價;

3、郵寄樣品、安排檢測;

4、進度跟蹤、結果反饋;

5、出具報告、售后服務;

6、如需加急、優先處理;

集成電路檢測標準：

1、EN 61967-2:2005 集成電路-電磁發射測量，150kHz - 1GHz-第2部分:輻射發射測量- TEM小室和寬帶TEM小室法 8

2、GJB4027A-2006 軍用電子元器件破壞性物理分析方法 項目1101、項目1102 2.3

3、GB/T12750-2006 半導體器件 集成電路第11部分:半導體集成電路分規范（不包括混合電路） 12.1

4、Q/GDW 11179.14-2015 電能表用元器件技術規范 第11部分：計量芯片 7.4.1

5、IEC 62132-4:2006 集成電路-電磁抗擾度測量,150 kHz -1 GHz - 第四部分：直接射頻功率輸入法 8

6、SJ 21473.3-2018 軍用集成電路電磁抗擾度測量方法 第3部分：傳導抗擾度測量大電流注入（BCI）法 6

7、GJB548B-2005 微電子器件試驗方法和程序 2016

8、ANSI/ESDA/JEDEC JS-002-2018 靜電放電敏感度測試，帶電器件模型（CDM）-器件級

9、GB/T 17574-1998 半導體器件 集成電路 第2部分:數字集成電路 第IV篇 第3節 4.1.2

10、JESD22-A108F:2017 溫度偏置壽命實驗 4.2.3.2

11、IEC 62215-3:2013 集成電路-脈沖抗擾度測量-第三部分：異步瞬態注入法 10 & Annex D

12、GB/T 17940-2000,IEC 60748-3:1986 半導體器件 集成電路 第3部分:模擬集成電路 第IV篇 第2節 17

13、JESD22-A117E:2018 電子可清除可編程ROM編程/清除耐久力和數據保持能力測試 4.2

14、AEC-Q100-005-REV-D1:2012 可寫可擦除的永久性記憶的耐久性、資料保持及工作壽命的測試 3.3

15、JESD47K :2018 IC集成電路壓力測試考核 5.5 表 5-1

16、IEC 62132-2:2010 集成電路-電磁抗擾度測量，150kHz - 1GHz-第2部分:輻射抗擾度測量- TEM小室和寬帶TEM小室法 8

17、Q/GDW 11179.11-2015 電能表用元器件技術規范 第11部分：串口通信協議RS-485芯片 7.5.1

18、JEDEC JESD78E-2016 集成電路閂鎖測試

19、IEC 62132-3:2007 集成電路-電磁抗擾度測量,150 kHz -1 GHz - 第三部分：大電流注入（BCI）法 6

20、AEC-Q100-008-REV-A:2003 早期壽命失效率 3.2

一份檢測報告有什么用?

產品檢測報告主要反映了產品各項指標是否達到標準中的合格要求，能夠為企業產品研發、投標、電商平臺上架、商超入駐、學校科研提供客觀的參考。

百檢第三方機構檢測服務包括食品、環境、醫療、建材、電子、化工、汽車、家居、母嬰、玩具、箱包、水質、化妝品、紡織品、日化品、農產品等多項領域檢測服務，歡迎咨詢。