在找半導(dǎo)體集成電路(失效分析)檢測(cè)機(jī)構(gòu)？百檢網(wǎng)為您提供半導(dǎo)體集成電路(失效分析)檢測(cè)服務(wù)，專業(yè)工程師對(duì)接確認(rèn)項(xiàng)目、標(biāo)準(zhǔn)后制定方案，包括半導(dǎo)體集成電路(失效分析)檢測(cè)周期、報(bào)價(jià)、樣品等，確認(rèn)無誤后安排寄樣檢測(cè)，半導(dǎo)體集成電路(失效分析)檢測(cè)常規(guī)周期3-15個(gè)工作日，歡迎咨詢。

檢測(cè)樣品：紡織品、化妝品、食品、農(nóng)產(chǎn)品、絕緣工具、五金件等

報(bào)告資質(zhì)：CNAS/CMA/CAL

報(bào)告周期：常規(guī)3-15個(gè)工作日，特殊樣品、檢測(cè)項(xiàng)目除外。

檢測(cè)費(fèi)用：根據(jù)檢測(cè)項(xiàng)目收費(fèi)，詳情請(qǐng)咨詢百檢網(wǎng)。

半導(dǎo)體集成電路(失效分析)檢測(cè)項(xiàng)目：

X射線照相,內(nèi)部檢查和清洗,殼內(nèi)氣氛分析,外殼清洗,外部檢查,多頭探針測(cè)試,密封性試驗(yàn),電參數(shù)測(cè)試,真空烘焙,管殼開封,試驗(yàn)分析,鍵合強(qiáng)度測(cè)試,非功能測(cè)試,顆粒碰撞噪聲檢測(cè),X射線檢查,內(nèi)部目檢,外部目檢,密封,掃描電子顯微鏡檢查,探針電測(cè)試,粒子碰撞噪聲檢測(cè)

百檢檢測(cè)流程：

1、電話溝通、確認(rèn)需求;

2、推薦方案、確認(rèn)報(bào)價(jià);

3、郵寄樣品、安排檢測(cè);

4、進(jìn)度跟蹤、結(jié)果反饋;

5、出具報(bào)告、售后服務(wù);

6、如需加急、優(yōu)先處理;

半導(dǎo)體集成電路(失效分析)檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：

1、GJB 3233-1998 半導(dǎo)體集成電路失效分析程序和方法 GJB 3233-1998

2、GJB 548B-2005 微電子器件試驗(yàn)方法和程序 GJB 548B-2005

3、GJB 3233-1998 半導(dǎo)體集成電路失效分析程序和方法 5.2.4

4、GJB3233-1998 半導(dǎo)體集成電路失效分析程序和方法 5.2.4

5、GJB548A-1996 外部檢查

6、GJB 548B-2005 微電子器件試驗(yàn)方法和程序 方法2014

7、GJB548B-2005 顆粒碰撞噪聲檢測(cè)

8、GJB 548A-1996 微電子器件試驗(yàn)方法和程序 GJB 548A-1996

9、GJB 548A-1996 微電子器件試驗(yàn)方法和程序 方法2012A

一份檢測(cè)報(bào)告有什么用?

產(chǎn)品檢測(cè)報(bào)告主要反映了產(chǎn)品各項(xiàng)指標(biāo)是否達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)中的合格要求，能夠?yàn)槠髽I(yè)產(chǎn)品研發(fā)、投標(biāo)、電商平臺(tái)上架、商超入駐、學(xué)校科研提供客觀的參考。

百檢第三方機(jī)構(gòu)檢測(cè)服務(wù)包括食品、環(huán)境、醫(yī)療、建材、電子、化工、汽車、家居、母嬰、玩具、箱包、水質(zhì)、化妝品、紡織品、日化品、農(nóng)產(chǎn)品等多項(xiàng)領(lǐng)域檢測(cè)服務(wù)，歡迎咨詢。