在找電子器件檢測(cè)機(jī)構(gòu)?百檢網(wǎng)為您提供電子器件檢測(cè)服務(wù),專業(yè)工程師對(duì)接確認(rèn)項(xiàng)目、標(biāo)準(zhǔn)后制定方案,包括電子器件檢測(cè)周期、報(bào)價(jià)、樣品等,確認(rèn)無(wú)誤后安排寄樣檢測(cè),電子器件檢測(cè)常規(guī)周期3-15個(gè)工作日,歡迎咨詢。
檢測(cè)樣品:紡織品、化妝品、食品、農(nóng)產(chǎn)品、絕緣工具、五金件等
報(bào)告資質(zhì):CNAS/CMA/CAL
報(bào)告周期:常規(guī)3-15個(gè)工作日,特殊樣品、檢測(cè)項(xiàng)目除外。
檢測(cè)費(fèi)用:根據(jù)檢測(cè)項(xiàng)目收費(fèi),詳情請(qǐng)咨詢百檢網(wǎng)。
電子器件檢測(cè)項(xiàng)目:
SEM檢查,X射線檢查,X射線照相,內(nèi)部檢查,內(nèi)部目檢,剪切強(qiáng)度,可焊性試驗(yàn),聲學(xué)掃描顯微鏡檢查,聲學(xué)檢查,外部檢查,外部目檢,導(dǎo)電陽(yáng)極絲試驗(yàn),封裝外部清洗,開(kāi)封,彎曲試驗(yàn),掃描電子顯微技術(shù)和電子束顯微分析,扭力測(cè)試,整個(gè)器件的剖面,斷裂強(qiáng)度,樣品剖面制備,溶劑抵抗,潮濕敏感度測(cè)試,玻璃鈍化層完整性檢查,電分配,電子探針和X射線能譜定量分析,電子顯微技術(shù),電遷移測(cè)試,端子強(qiáng)度,絕緣電阻測(cè)試,耐壓測(cè)試,耐焊接熱,錫須生長(zhǎng),鍵合強(qiáng)度,阻燃試驗(yàn),附加電氣試驗(yàn),靜電放電,預(yù)處理,芯片粘接的超聲檢測(cè),加電溫度循環(huán)試驗(yàn),振動(dòng)和掃頻試驗(yàn),溫度偏置工作壽命試驗(yàn),溫度沖擊試驗(yàn),溫度循環(huán)試驗(yàn),溫度濕度偏置循環(huán)壽命測(cè)試,鹽霧試驗(yàn),穩(wěn)態(tài)濕熱偏置壽命試驗(yàn),高加速壽命試驗(yàn),高加速無(wú)偏置壽命試驗(yàn),高加速蒸煮試驗(yàn),高溫存儲(chǔ)壽命試驗(yàn),元素含量(鉛、鎘、鉻、鋇、硒、銻、汞、砷、鎳、鈹、鉍、銅、鐵、鎂、錳、磷、錫、鈦、鋅、鈣、銀、鋁、鈷、 鉬、 硅、鈉、鉀、硼、鎵、鈀、鋰、鉻、鍶、銫、釷、鈾),溫度濕度偏置與表面凝露循環(huán)壽命測(cè)試,密封,溫度循環(huán),穩(wěn)定性烘焙,粒子碰撞噪聲檢測(cè)試驗(yàn),老煉試驗(yàn),鹽霧,耐濕,內(nèi)部目檢(單片),內(nèi)部目檢(混合電路),恒定加速度,無(wú)源元件的目檢,破壞性物理分析(DPA)的內(nèi)部目檢,芯片剪切強(qiáng)度,鍵合強(qiáng)度(破壞性鍵合拉力試驗(yàn)),高溫電老煉,低氣壓(高空工作),溫度循環(huán)(空氣介質(zhì)),熱沖擊(液體介質(zhì)),穩(wěn)態(tài)壽命,絕緣電阻,耐濕試驗(yàn),振動(dòng),間歇壽命,檢漏,電功率老化,X射線無(wú)損檢測(cè),塑封器件的超聲掃描檢測(cè),引線牢固性,機(jī)械沖擊,熱沖擊,密封-粗檢漏,密封-細(xì)檢漏,掃頻振動(dòng),低氣壓試驗(yàn),振動(dòng)噪聲,振動(dòng)疲勞,穩(wěn)定性烘焙試驗(yàn)
百檢檢測(cè)流程:
1、電話溝通、確認(rèn)需求;
2、推薦方案、確認(rèn)報(bào)價(jià);
3、郵寄樣品、安排檢測(cè);
4、進(jìn)度跟蹤、結(jié)果反饋;
5、出具報(bào)告、售后服務(wù);
6、如需加急、優(yōu)先處理;
電子器件檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):
1、IPC TM-650 2.6.3.1E:2007 阻焊層防潮性絕緣電阻測(cè)試試驗(yàn)方法手冊(cè)
2、JESD22-A102E:2015 高加速蒸煮試驗(yàn)
3、GJB548B-2005 微電子器件試驗(yàn)方法和程序 方法1014.2
4、MIL-STD- 202H-2015 電子電器部件測(cè)試標(biāo)準(zhǔn) MIL-STD-202H-2015
5、AEC-Q200-006A-2010 端子強(qiáng)度(SMD)-剪切應(yīng)力測(cè)試
6、GJB128A-97 半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法
7、GJB 1187A-2001 射線檢驗(yàn)
8、JESD 22-A101D.01:2021 穩(wěn)態(tài)濕熱偏置壽命試驗(yàn) JESD22-A101D.01:2021
9、JEDEC JESD 22-A121A-2008 錫及錫合金表面錫須生長(zhǎng)測(cè)量 JEDEC JESD22-A121A-2008(R2014)
10、GJB548B-2005 微電子器件試驗(yàn)方法和程序 方法 2019.2
11、JESD22-A113h-2016 可靠性試驗(yàn)之前不密閉表面安裝設(shè)備的預(yù)處理
12、MIL-STD-883K-2018 微電路試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn) 方法3015.9
13、ISO/DIS 10605 道路車輛 靜電放電引起的電干擾的試驗(yàn)方法
14、IPC/JEDEC J-STD-020E:2015 非密封固態(tài)表面安裝器件的濕度/回流敏感度分類
15、JESD22-A108F:2017 溫度偏置工作壽命試驗(yàn)
16、AEC Q200-001B-2010 阻燃測(cè)試
17、 JESD22-A107C:2013 鹽霧試驗(yàn)
18、EIA 469E-2017 高可靠性陶瓷整體電容器破壞性物理分析的試驗(yàn)方法 EIA 469E-2017
19、JESD 22-A100E:2020 溫度濕度偏置與表面凝露循環(huán)壽命測(cè)試 JESD22-A100E:2020
20、IPC TM-650 2.6.3.4A:2003 絕緣保護(hù)膜防潮性與絕緣電阻測(cè)試試驗(yàn)方法手冊(cè)
一份檢測(cè)報(bào)告有什么用?
產(chǎn)品檢測(cè)報(bào)告主要反映了產(chǎn)品各項(xiàng)指標(biāo)是否達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)中的合格要求,能夠?yàn)槠髽I(yè)產(chǎn)品研發(fā)、投標(biāo)、電商平臺(tái)上架、商超入駐、學(xué)校科研提供客觀的參考。
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